Raman spectroscopy is a non-destructive material analysis method, which is based on a focused laser beam. Raman measurements give detailed information about the chemical composition, crystal structure, and the nature of chemical bonds of the sample.
LabRAM HR800 is a high-resolution confocal µ-Raman system where the analysis area and depth can be limited down to one µm and two µm, respectively. High spatial resolution makes it possible to obtain detailed information about variations in chemical composition and phases of the sample under investigation.
Raman spectroscopy is suitable for measuring both organic and inorganic materials. Samples can be either solids or liquids. Possible applications of the µ-Raman spectroscopy are e.g., phase and chemical composition analysis of compounds, mechanical stress analysis, polymer research, and characterization of geological samples.
GDOES (Glow-discharge Optical Emission Spectroscopy) soveltuu laajakirjoiseen alkuaineanalyysiin kiinteästä materiaalista mukaan lukien myös keveimmät alkuaineet H, Li, B, C, N ja O. Näytteestä hohtopurkauksessa argon-plasmaan irronnut materiaali analysoidaan optisella emissiospektrometrialla.
Analyysisissä näytteeseen syntyy 2,5mm tai 4,0mm halkaisijainen polttojälki, jonka syvyys kasvaa tyypillisesti 10 nm/s. Homogeenisesta materiaalista tyypillisesti määritetään kokonaiskoostumusta. Epähomogeenisista ja kerroksellisista näytteistä määritetään usein alkuaineiden syvyysprofiili aina 150 µm saakka. Pienimmät havaittavissa olevat pitoisuudet ovat 1-10 ppm. Kerrospaksuuksien erottelukyky on 2-10 nm.
Näytteeksi soveltuvat useimmat kiinteät materiaalit. Näytteen tulee olla riittävän sileä ja puhdas erityisesti rasvasta. Tyypillisiä määrityksiä ovat metallien pintakerroksen koostumusvaihtelut, oksidikerroksien koostumukset, pintakäsiteltyjen ja pinnoitettujen materiaalien kerrosvahvuudet ja koostumukset.
An ellipsometer is an instrument for analyzing optical properties of surfaces and thin films. Thickness of thin films can also be determined by using the measured data.
A surface profiler is a device which is used in measuring surface roughness and shape of samples. The operation of the profiler is based on a sharp stylus which is moved across the surface and the movement of the stylus is monitored inductively. The Stylus can be scanned across the surface, so that the 3D image of the surface structure of the sample is obtained. Stylus force is very small which enables measurements on soft materials.
A Confocal Scanning Acoustic Microscope (C-SAM) is a non-destructive an imaging device for inspection of internal structure of samples. The operation of the C-SAM is based on the propagation of the ultrasound in the solid materials.
C-SAM can be used in failure analysis and imaging of electronic connections, layer structures etc. Microscopes large sample stage enables imaging of large samples.
Hiili- ja rikkipitoisuuden määrittäminen Leco CS230 hiili-rikki analysaattorilla on mahdollinen lähes kaikista materiaaleista: metalleista, mineraaleista, kuonista ja sementeistä. Määritysraja sekä hiilelle ja rikille on 5-30 ppm ja tarkkuus 1,5% mittausarvosta.
Analyysiä käytetään usein XRF:n rinnakkaismäärityksenä täydentämään hiilen tai siitä lasketun karbonaatin pitoisuuden lisäämistä kokonaisanalyysiin, ppm tason rikkipitoisuuksien määritykseen sekä terästen ja muiden metallien hiili- ja rikkipitoisuusmäärityksiin.